ਸਿਧਾਂਤ: ਫੇਰੋਮੈਗਨੈਟਿਕ ਸਾਮੱਗਰੀ ਅਤੇ ਵਰਕਪੀਸ ਦੇ ਚੁੰਬਕੀਕਰਣ ਤੋਂ ਬਾਅਦ, ਵਿਗਾੜਾਂ ਦੀ ਮੌਜੂਦਗੀ ਦੇ ਕਾਰਨ, ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਅਤੇ ਵਰਕਪੀਸ ਦੀ ਸਤਹ ਦੇ ਨੇੜੇ ਚੁੰਬਕੀ ਖੇਤਰ ਦੀਆਂ ਲਾਈਨਾਂ ਸਥਾਨਕ ਵਿਗਾੜ ਵਿੱਚੋਂ ਲੰਘਦੀਆਂ ਹਨ, ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਚੁੰਬਕੀ ਖੇਤਰ ਲੀਕ ਹੁੰਦੇ ਹਨ। ਵਰਕਪੀਸ ਦੀ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਲਗਾਏ ਗਏ ਚੁੰਬਕੀ ਕਣਾਂ ਨੂੰ ਸੋਖ ਲਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਢੁਕਵੀਂ ਰੋਸ਼ਨੀ ਦੇ ਅਧੀਨ ਦਿਖਾਈ ਦੇਣ ਵਾਲੇ ਚੁੰਬਕੀ ਚਿੰਨ੍ਹ ਬਣਾਉਂਦੇ ਹਨ, ਇਸ ਤਰ੍ਹਾਂ ਵਿਘਨ ਦੇ ਸਥਾਨ, ਆਕਾਰ ਅਤੇ ਆਕਾਰ ਨੂੰ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਿਤ ਕਰਦੇ ਹਨ।
ਲਾਗੂਯੋਗਤਾ ਅਤੇ ਸੀਮਾਵਾਂ:
ਚੁੰਬਕੀ ਕਣਾਂ ਦਾ ਨਿਰੀਖਣ ਫੈਰੋਮੈਗਨੈਟਿਕ ਸਾਮੱਗਰੀ ਦੀ ਸਤਹ ਅਤੇ ਨੇੜੇ ਦੀ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਵਿਘਨ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਉਣ ਲਈ ਢੁਕਵਾਂ ਹੈ ਜੋ ਬਹੁਤ ਛੋਟੀਆਂ ਹਨ ਅਤੇ ਬਹੁਤ ਹੀ ਤੰਗ ਅੰਤਰ ਹਨ (ਜਿਵੇਂ ਕਿ 0.1mm ਦੀ ਲੰਬਾਈ ਅਤੇ ਮਾਈਕ੍ਰੋਮੀਟਰ ਦੀ ਚੌੜਾਈ ਵਿੱਚ ਦਰਾੜਾਂ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਇਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ) ਜਿਨ੍ਹਾਂ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਉਣਾ ਮੁਸ਼ਕਲ ਹੈ। ਦ੍ਰਿਸ਼ਟੀਗਤ; ਇਹ ਕੱਚੇ ਮਾਲ, ਅਰਧ-ਮੁਕੰਮਲ ਉਤਪਾਦਾਂ, ਤਿਆਰ ਵਰਕਪੀਸ, ਅਤੇ ਇਨ-ਸਰਵਿਸ ਕੰਪੋਨੈਂਟਸ ਦੇ ਨਾਲ-ਨਾਲ ਪਲੇਟਾਂ, ਪ੍ਰੋਫਾਈਲਾਂ, ਪਾਈਪਾਂ, ਬਾਰਾਂ, ਵੇਲਡ ਵਾਲੇ ਹਿੱਸੇ, ਕਾਸਟ ਸਟੀਲ ਦੇ ਪਾਰਟਸ ਅਤੇ ਜਾਅਲੀ ਸਟੀਲ ਦੇ ਹਿੱਸਿਆਂ ਦੀ ਵੀ ਜਾਂਚ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਤਰੇੜਾਂ, ਸੰਮਿਲਨ, ਵਾਲਾਂ ਦੀਆਂ ਲਾਈਨਾਂ, ਚਿੱਟੇ ਧੱਬੇ, ਫੋਲਡ, ਠੰਡੇ ਬੰਦ, ਅਤੇ ਢਿੱਲੇਪਨ ਵਰਗੇ ਨੁਕਸ ਪਾਏ ਜਾ ਸਕਦੇ ਹਨ।
ਹਾਲਾਂਕਿ, ਚੁੰਬਕੀ ਕਣਾਂ ਦੀ ਜਾਂਚ ਔਸਟੇਨੀਟਿਕ ਸਟੇਨਲੈਸ ਸਟੀਲ ਦੇ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਡਾਂ ਨਾਲ ਵੈਲਡ ਕੀਤੇ ਅਸਟੇਨੀਟਿਕ ਸਟੇਨਲੈਸ ਸਟੀਲ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਅਤੇ ਵੇਲਡਾਂ ਦਾ ਪਤਾ ਨਹੀਂ ਲਗਾ ਸਕਦੀ ਹੈ, ਨਾ ਹੀ ਇਹ ਗੈਰ ਚੁੰਬਕੀ ਸਮੱਗਰੀ ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਤਾਂਬਾ, ਐਲੂਮੀਨੀਅਮ, ਮੈਗਨੀਸ਼ੀਅਮ, ਟਾਈਟੇਨੀਅਮ, ਆਦਿ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾ ਸਕਦੀ ਹੈ। , ਅਤੇ ਵਰਕਪੀਸ ਸਤਹ ਤੋਂ 20 ° ਤੋਂ ਘੱਟ ਕੋਣ ਨਾਲ ਡੈਲਾਮੀਨੇਸ਼ਨ ਅਤੇ ਫੋਲਡਿੰਗ।
ਪੈਨੇਟਰੈਂਟ ਟੈਸਟਿੰਗ (PT)
ਸਿਧਾਂਤ: ਹਿੱਸੇ ਦੀ ਸਤ੍ਹਾ ਨੂੰ ਫਲੋਰੋਸੈਂਟ ਜਾਂ ਰੰਗਦਾਰ ਰੰਗਾਂ ਵਾਲੇ ਪੈਨਟਰੈਂਟ ਨਾਲ ਲੇਪ ਕੀਤੇ ਜਾਣ ਤੋਂ ਬਾਅਦ, ਇੱਕ ਕੇਸ਼ਿਕਾ ਟਿਊਬ ਦੀ ਕਿਰਿਆ ਦੇ ਤਹਿਤ, ਸਮੇਂ ਦੀ ਇੱਕ ਮਿਆਦ ਦੇ ਬਾਅਦ, ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਕਰਨ ਵਾਲਾ ਸਤਹ ਦੇ ਖੁੱਲਣ ਦੇ ਨੁਕਸ ਵਿੱਚ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ; ਹਿੱਸੇ ਦੀ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਵਾਧੂ ਘੁਸਪੈਠ ਨੂੰ ਹਟਾਉਣ ਤੋਂ ਬਾਅਦ, ਇੱਕ ਡਿਵੈਲਪਰ ਹਿੱਸੇ ਦੀ ਸਤਹ 'ਤੇ ਲਾਗੂ ਕੀਤਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ. ਇਸੇ ਤਰ੍ਹਾਂ, ਇੱਕ ਕੇਸ਼ਿਕਾ ਦੀ ਕਿਰਿਆ ਦੇ ਤਹਿਤ, ਡਿਵੈਲਪਰ ਨੁਕਸ ਵਿੱਚ ਬਰਕਰਾਰ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਕਰਨ ਵਾਲੇ ਨੂੰ ਆਕਰਸ਼ਿਤ ਕਰੇਗਾ, ਅਤੇ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਕਰਨ ਵਾਲਾ ਡਿਵੈਲਪਰ ਵਿੱਚ ਵਾਪਸ ਆ ਜਾਵੇਗਾ। ਕਿਸੇ ਖਾਸ ਰੋਸ਼ਨੀ ਸਰੋਤ (ਅਲਟਰਾਵਾਇਲਟ ਜਾਂ ਸਫੈਦ ਰੋਸ਼ਨੀ) ਦੇ ਤਹਿਤ, ਨੁਕਸ 'ਤੇ ਪ੍ਰਵੇਸ਼ ਕਰਨ ਵਾਲੇ ਦੇ ਨਿਸ਼ਾਨ (ਪੀਲੇ ਹਰੇ ਫਲੋਰੋਸੈਂਸ ਜਾਂ ਚਮਕਦਾਰ ਲਾਲ) ਨੂੰ ਮਹਿਸੂਸ ਕੀਤਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਜਿਸ ਨਾਲ ਨੁਕਸ ਦੀ ਰੂਪ ਵਿਗਿਆਨ ਅਤੇ ਵੰਡ ਸਥਿਤੀ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਇਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ।
ਫਾਇਦੇ ਅਤੇ ਸੀਮਾਵਾਂ:
ਪੈਨੇਟਰੈਂਟ ਟੈਸਟਿੰਗ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾ ਸਕਦੀ ਹੈ, ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਧਾਤੂ ਅਤੇ ਗੈਰ-ਧਾਤੂ ਸਮੱਗਰੀ ਸ਼ਾਮਲ ਹਨ; ਚੁੰਬਕੀ ਅਤੇ ਗੈਰ ਚੁੰਬਕੀ ਸਮੱਗਰੀ; ਵੈਲਡਿੰਗ, ਫੋਰਜਿੰਗ, ਰੋਲਿੰਗ ਅਤੇ ਹੋਰ ਪ੍ਰੋਸੈਸਿੰਗ ਵਿਧੀਆਂ; ਉੱਚ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ ਹੈ (ਅਨੁਭਵੀ ਡਿਸਪਲੇਅ, ਸੁਵਿਧਾਜਨਕ ਕਾਰਵਾਈ, ਅਤੇ ਘੱਟ ਖੋਜ ਲਾਗਤ ਦੇ ਨਾਲ, 0.1 μM ਚੌੜਾ ਨੁਕਸ ਪਾਇਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ।
ਪਰ ਇਹ ਸਿਰਫ ਸਤ੍ਹਾ ਦੇ ਖੁੱਲਣ ਦੇ ਨਾਲ ਨੁਕਸ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾ ਸਕਦਾ ਹੈ ਅਤੇ ਖੁਰਦਰੀ ਅਤੇ ਢਿੱਲੀ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਬਣੇ ਵਰਕਪੀਸ ਅਤੇ ਮੋਟੇ ਸਤਹਾਂ ਵਾਲੇ ਵਰਕਪੀਸ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰਨ ਲਈ ਢੁਕਵਾਂ ਨਹੀਂ ਹੈ; ਸਿਰਫ ਨੁਕਸਾਂ ਦੀ ਸਤਹ ਵੰਡ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਇਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਜਿਸ ਨਾਲ ਨੁਕਸ ਦੀ ਅਸਲ ਡੂੰਘਾਈ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਉਣਾ ਮੁਸ਼ਕਲ ਹੋ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਜਿਸ ਨਾਲ ਨੁਕਸਾਂ ਦਾ ਗਿਣਾਤਮਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਮੁਲਾਂਕਣ ਕਰਨਾ ਮੁਸ਼ਕਲ ਹੋ ਜਾਂਦਾ ਹੈ। ਖੋਜ ਦੇ ਨਤੀਜੇ ਵੀ ਆਪਰੇਟਰ ਦੁਆਰਾ ਬਹੁਤ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਹੁੰਦੇ ਹਨ।
ਈਮੇਲ:oiltools14@welongpost.com
ਗ੍ਰੇਸ ਮਾ
ਪੋਸਟ ਟਾਈਮ: ਨਵੰਬਰ-14-2023
